OMRON lance le système d'inspection par rayons X automatisé VT-X950 3D-AXI
OMRON a annoncé le lancement du VT-X950, le dernier modèle de sa gamme de systèmes d'inspection automatique par rayons X de type scanner. Le VT-X950 vient s'ajouter au VT-X750-XL et au VT-X850, élargissant ainsi l'offre de systèmes d'inspection 3D à grande vitesse de l'entreprise.
Ces systèmes sont conçus pour répondre aux exigences de plus en plus complexes de la fabrication de semi-conducteurs et d'autres produits de pointe. Le VT-X950 est le premier modèle de la série VT spécifiquement conçu pour les salles blanches, ce qui le rend idéal pour les environnements de fabrication de semi-conducteurs à mi-processus, tels que les processus de collage wafer-to-wafer.
Avec la progression de l'IA générative, des centres de données et des communications 5G/6G, la miniaturisation des semi-conducteurs a atteint de nouveaux niveaux de précision. L'évolution vers l'emballage 3D et les modules de véhicules électriques intégrés, en particulier dans l'industrie automobile, exige des inspections plus précises que les systèmes à rayons X 2D classiques. La série VT d'OMRON répond à ces exigences grâce à une technologie d'inspection 3D avancée.
Le VT-X950 est équipé d'une fonction qui modifie automatiquement les paramètres d'inspection pour s'adapter aux changements soudains des articles de production en raison de la fluctuation de la demande. En se référant aux points de mesure et aux paramètres d'inspection enregistrés à l'avance dans le système de contrôle de la production, le système s'adapte automatiquement aux conditions de chaque article de production. Cela réduit les pertes au démarrage et la nécessité de réinitialiser manuellement les paramètres d'inspection.
En outre, le VT-X950 comprend une fonction de chargement et de déchargement automatique par convoyeur, ce qui contribue à l'automatisation et à l'économie de main-d'œuvre dans le processus de fabrication. Il est également doté d'une technologie qui permet de capturer des images stéréoscopiques sans s'arrêter, pour une inspection en continu. Cette fonction est particulièrement utile dans les environnements de production à grands volumes. Par ailleurs, le VT-X950 prend en charge l'inspection des électrodes bombées formées avec un pas étroit pour lier les circuits intégrés entre eux. Le système tire également parti de la technologie d'IA et de l'apprentissage profond pour traiter les images capturées, permettant ainsi une identification précise des produits défectueux.
En savoir plus sur le VT-X950.
Élément précédent des actualités sur les produit
Élément suivant des actualités sur les produit
